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XRD 3003 HR double double

Difratômetro de Alta Resolução

O SEIFERT XRD 3003 HR double double é um difratômetro de alta resolução para caracterização estrutural de substratos cristalinos e filmes finos. Além das aplicações típicas como curvas de oscilação, mapeamento de espaço recíproco e reflectometria, o sistema pode realizar as “técnicas de Ligação estendida” para determinar parâmetros de retícula altamente precisos de materiais uniformes não cúbicos. A operação nos modos de cristal duplo e cristal triplo é possível com uma montagem experimental. As amostras podem ser perfeitamente alinhadas de maneira fácil por um estágio de dupla inclinação montado na mesa 150 mm X/Y.

 

 

 

 

 

Características

  • Fonte de Feixe Cu Padrão
  • Espelho multicamada para ampliação de intensidade
  • Monocromador com corte de canal e analisador
  • Berço Eulerian com X, Y, Z, Chi, Phi
  • Contador de cintilação
  • Estágio com dupla inclinação para alinhamento de amostra
  • Mapeamento completo de wafer de 6 polegadas
  • Cabina padrão de proteção de raio X
  • Pacote de software potente RayfleX

Aplicações

  • Método de Ligação Estendida para determinação de alta precisão de constantes de retícula
  • Curvas de oscilação
  • Mapeamento de espaço recíproco
  • Reflectometria
  • Sem limitação para medir reflexões uniformes altamente assimétricas, inclinação Chi até 90°
  • Modos de cristal duplo e triplo
  • Monocromador de 2 saltos e 4 saltos com corte de canal, Ge220 e Ge440
  • Analisador de 3 saltos com corte de canal

Especificações

XRD 3003 HR Double Double

Cabina de segurança Cabina padrão para raio X conforme a legislação alemã RöV
Equipamento de raio X 2-60kV, 2-80 mA, máx. 3,5 kW, +/- 0,01% com +/-10% de flutuação de tensão da rede elétrica
Tubo de raio X Foco em linha de Cu com tubo de vidro
Óptica de raio X Espelho multicamada e cristais Ge(110) com corte de canal
Manipulador de amostra Berço Eulerian com Chi, Phi, X, Y e Z
Detector Contador de cintilação

Goniômetro de dois círculos MZ VI E

Eixos Theta/Theta
Tamanho mínimo do passo 0.0001°
Reprodutibilidade ± 0.0001°
Intervalo Omega -5° a +185°
Intevalo 2Theta -140° a +154°

Manipulador de Amostra

Eixo de inclinação Chi
Tamanho mínimo do passo 0.0005°
Reprodutibilidade ± 0.0003°
Intervalo +90°/ -70°
Eixo de rotação Phi
Tamanho mínimo do passo 0.0005°
Reprodutibilidade: ± 0.0003°
Intervalo n x 360°
Eixo de translação Z
Tamanho mínimo do passo 0,001 mm
Reprodutibilidade: ± 0,005 mm
Intervalo 25 mm
Estágio X/Y
Tamanho mínimo do passo 0,001 mm
Reprodutibilidade: ± 0,005 mm
Intervalo 150 mm

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