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XRD 3003 fast in-situ

XRD 3003 fast in-situ

O SEIFERT XRD 3003 fast in-situ é o mais novo sistema XRD da GE para investigação de transição de fase dependente da temperatura na grande variedade de Analisadores SEIFERT XRD. Originalmente, este sistema foi projetado para aplicações fotovoltáicas no local. Três detectores Meteor1D XRD ultrarrápidos para cobrir um intervalo de 40° em 2Theta em um instante. O tempo de leitura extremamente rápido de somente 0,3 ms do Meteor1D permite a tomada de difractogramas a cada segundo simultaneamente com a respectiva temperatura, naquele exato momento. Portanto, as mudanças de fase podem ser examinadas com grande precisão durante o processo de temper. reativa e os processos de temperatura durante a produção de elementos fotovoltáicos podem ser ajustados de acordo. Além disso, as câmaras de temperatura XRD padrão para o XRD 3003 fast in-situ podem ser ajustadas à câmara feita sob medida.

 

 

 

Características

  • Fonte de Feixe Padrão com sistema corte/Soller
  • Uso de câmaras de temperatura XRD padrão
  • Ajustáveis à câmara de amostra feita sob medida
  • 3 Detectores ultrarrápidos XRD Meteor1D
  • Tempo de leitura extremamente curto de 0,3 ms
  • Difractograma de 40° a cada segundo
  • Cabina ergonômica para entrada de pessoas
  • Pacote de software potente RayfleX

Aplicações

  • Investigação no local
  • Transição de fase

Especificações

XRD 3003 Fast In-situ

Cabina de segurança Cabina para entrada de pessoas conforme a legislação alemã RöV para raio X
Equipamento de raio X 2-60kV, 2-80 mA, máx. 3,5 kW, +/- 0,01% com +/-10% de flutuação de tensão da rede elétrica
Tubo de raio X Foco em linha de Cu com tubo de vidro
Óptica de raio X Sistema corte/ Soller
Manipulador de amostra espaço para câmara padrão ou ajuste para câmara feita sob medida
Detector 3 Meteor1D com filtro beta , leitura paralela

Goniômetro de dois círculos MZ VI E

Eixos Theta/Theta
Tamanho mínimo do passo 0.0005°
Reprodutibilidade ± 0.0003°

Manipulador de Amostra

Eixo de translação Z para Ajustar amostra/ câmara ao ponto de medição
Tamanho mínimo do passo 0,001 mm
Reprodutibilidade ± 0,005 mm
Intervalo 120 mm

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