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Galaxy XRD

Sistema Laue Online

O SEIFERT Galaxy XRD é o sistema Laue online padrão. O Galaxy XRD usa uma montagem fixa de uma fonte de raio X policromática junto com um detector de painel plano em tempo real de 200 x 200 mm2. Espécimes cristalinas únicas (por ex., pás de turbina) são montadas em um suporte estático ou manualmente ajustável. O ponto de medição selecionado pode ser visto e documentado por uma câmara óptica. O potente pacote de software RayfleX oferece coleta de dados automática, indexação e avaliação da orientação de cristal único referida ao eixo geométrico do espécime, assim como perfeição e qualidade cristalina.

 

 

 

 

 

 

Características

  • Sistema Laue Online
  • Fonte de Feixe W Padrão
  • Medidor mecânico
  • A montagem mecânica da amostra pode ser motorizada
  • Detector de painel plano em tempo real
  • Visão de câmara óptica e documentação
  • Cabina padrão de proteção de raio X
  • Pacote de software potente RayfleX

Aplicações

  • Técnica de reflexão reversa Laue
  • Determinação da orientação de cristal único
  • Perfeição e qualidade cristalina
  • Espécime de cristal único
  • Pás de turbina de cristal único

Especificações

Galaxy XRD

Cabina de segurança Cabina padrão para raio X conforme a legislação alemã RöV
Equipamento de raio X 2 – 60 kV, 2 - 80 mA, máx. 3,5 kW, +/- 0,01% com +/-10% de flutuação de tensão da rede elétrica
Tubo de raio X Tubo de vidro com foco pontual de tungstênio (W) 3000 Watt
Óptica de raio X conjunto colimador para diferentes tamanhos de ponto
Manipulador de amostra montagem de amostra estática ou opção manualmente ajustável ou opção de versão motorizada
Detector detector de painel plano em tempo real de 200 x 200 mm2

Manipulador de amostra

Carga máxima: 15 kg
Altura máxima da amostra: 300 mm
Diâmetro máx. da amostra: 300 mm

Manipulador Motorizado (Opcional)

Carga máxima: 3 kg
Altura máxima da amostra: 100 mm
Diâmetro máx. da amostra: 100 mm

Eixo Vertical Z

Tamanho mínimo do passo: 0,001 mm
Reprodutibilidade: ± 0,005 mm
Intervalos: 95 mm

Estágio X/ Y

Tamanho mínimo do passo: 0,001 mm
Reprodutibilidade: ± 0,005 mm
Intervalos: 70 mm

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