GE Measurement & Control SolutionsGE Measurement & Control Solutions

Início » Radiografia (raio X) » Raio X Analítico (XRD) » Seifert Galaxy XRD XL
E-mail Imprimir

Galaxy XRD Heavyweight

Galaxy XRD Heavyweight Sistema Laue

O SEIFERT Galaxy XRD Heavyweight é o desenvolvimento adicional do sistema Laue padrão on-line para peças grandes (< 50cm) e pesadas (< 30 kg) do Galaxy XRD. A amostra é montada horizontalmente sobre um suporte de fixação motorizado X, Y, Z. Ele á posicionado automaticamente nos três pontos: a. câmara óptica para seleção de ponto e documentação, b. ajuste com laser para medição da distância Z, c. Medição Laue de raio X. O potente pacote de software RayfleX oferece coleta de dados automática, indexação e avaliação da orientação de cristal único referida ao eixo geométrico do espécime. Para peças com crescimento de grão colunar, são calculadas as orientações relativas. Na posição a. vários pontos de medição podem ser determinados, que serão automaticamente ajustados na posição b. e também medidos na posição c.

Características

  • Fonte de Feixe W Padrão
  • Posição de ajuste da amostra
  • Câmara para visualização e documentação
  • Medidor z a laser
  • Montagem de amostra motorizada X, Y, Z
  • Detector de painel plano em tempo real
  • Mapeamento de amostra
  • Cabina de proteção de raio X para entrada de pessoas
  • Pacote de software potente RayfleX

Aplicações

  • Determinação da orientação de cristal único
  • Espécime de cristal único
  • Pás de turbina de cristal único
  • Orientação relativa do grão

Especificações

Galaxy XRD Heavyweight

Cabina de segurança Cabina padrão para raio X conforme a legislação alemã RöV
Equipamento de raio X 2 – 60 kV, 2 - 80 mA, máx. 3,5 kW, +/- 0,01% com +/-10% de flutuação de tensão da rede elétrica
Tubo de raio X Tubo de vidro com foco pontual de tungstênio (W) 3000 Watt
Óptica de raio X conjunto colimador para diferentes tamanhos de ponto
Manipulador de amostra montagem de amostra motorizada X, Y, Z
Detector detector de painel plano em tempo real de 200 x 200 mm2

Manipulador de amostra
Carga máxima: 30 kg
Altura máxima da amostra: 300 mm
Comprimento máx. da amostra: 500 mm
Estágio Z
Tamanho mínimo do passo: 0,001 mm
Reprodutibilidade: ± 0,005 mm
Intervalo: 100 mm
Estágio X
Tamanho mínimo do passo: 0,001 mm
Reprodutibilidade: ± 0,005 mm
Intervalos: 250 mm
Estágio Y (Eixo Vertical)
Tamanho mínimo do passo: 0,001 mm
Reprodutibilidade: ± 0,005 mm
Intervalos: 625 mm

Download


Descrições English Deutsch RU Español
Corrosion Erosion Brochure acrobat-reader acrobat-reader
Inspection Technologies Brochure acrobat-reader acrobat-reader acrobat-reader acrobat-reader
Seifert Galaxy XRD XL Brochure acrobat-reader


acrobat-reader