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COMMUNIQUÉ DE PRESSE

GE présente son premier système TDM de 300 kV compact, doté d'une détectabilité de détails inférieure à 1 µm.

 

Wunstorf, Allemagne, le 27 septembre 2011.  Le nouveau phoenix v|tome|x m de la branche Inspection Technologies de GE est le premier système TDM compact de 300 kV dédié à la métrologie en 3D et à l'analyse des défauts doté d'une détectabilité de détails inférieure à 1 µm. 
 

Ce système offre un grossissement et une résolution de grande qualité pour les échantillons de métaux très absorbants.  D'une puissance pouvant atteindre 500 W, son tube permet d'examiner en quelques minutes seulement une vaste gamme de pièces, notamment les pièces coulées en métal léger. En option, sa configuration en double tube permet une nanoCT® haute résolution pour les échantillons peu absorbants. Doté d'une grande polyvalence, ce nouveau système convient à une vaste gamme d'applications en matière de science des matériaux, d'analyse des défauts industriels, de contrôle de process et de métrologie en 3D dans différents secteurs industriels : fonderie, électronique, plastiques, géologie, aéronautique ou contrôle des aubes de turbine.

 

Oliver Brunke, chef de produit TDM pour la gamme de produits de radiographie phoenix de GE, explique : « Ce nouveau système TDM étend notre série v|tome|x et, pour la première fois, notre tube microfocus à rayon X de 300 kV/500 W unique est disponible dans un système de laboratoire compact, complétant ainsi notre version v|tome|x L grande enceinte et notre version v|tome|x s compact.  Le phoenix v|tome|x m  offre une qualité d'image supérieure grâce à son utilisation d'une technologie interne pour tous les composants communs matériels et logiciels, dont la technologie de tube à rayon X haute résolution et les panneaux détecteurs à rayon X DXR numériques à température stabilisée de GE.

Le nouveau système TDM de GE est conçu pour des échantillons de 600 x 600 mm et fournit un champ de vision allant jusqu'à 300 mm de diamètre et 600 mm de hauteur pour un poids pouvant atteindre 50 kg. Sa manipulation sur un socle de granit et son armoire climatisée lui confèrent une précision de mesure et une répétabilité extrêmement élevées. Il est en outre équipé du logiciel de TDM phoenix datos|x 2.0, qui assure une acquisition des données entièrement automatisée tout en gérant le traitement et l'affichage du volume grâce à sa fonction click & measure|CT . Les résultats de la reconstruction 3D sont obtenus en quelques minutes, grâce à la fonction velo|CT du système.

Pour un grossissement optimal, GE a conçu un tube unipolaire microfocus de 300 kV, dont la distance de travail minimale entre le foyer optique et la fenêtre de sortie des faisceaux de rayon X est d'environ 4,5 mm seulement. Ce système rompt avec les tubes bipolaires classiques, qui se caractérisent par des distances de travail minimales plus grandes, et dont la distance entre le foyer optique et la cible est supérieure et limite par conséquent le grossissement. Pour réaliser des balayages à très haute résolution, un tube nanofocus haute puissance de 180 kV en option peut être sélectionné en appuyant sur le bouton correspondant.


Images:

Vtomex M

Image 1 : Le système TDM doubleltube phoenix v|tome|x m 300 kV puissant proposé par GE

 

 

Vtomex M

Image 2 : Contrôle d'aubes de turbines en 3D réalisé par tomographie 

 

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