Mikro- und Nanofokus
 |
Übersicht: Mikro- und Nanofokusgeräte
Die hochauflösende Röntgenprüfung findet breite Anwendung in der zerstörungsfreien Ausfallanalyse und Prozesssteuerung in den verschiedensten Bereichen in Industrie und Wissenschaft, weil Elektronikbauteile zunehmend miniaturisiert sind und eine immer höhere Komplexität aufweisen.
Nur die Röntgentechnik mit maximaler Auflösung stellt die notwendigen Instrumente für die Prüfung solcher Bauteile bereit. Typische Prüfaufgaben:
- Automatische Lötstellenprüfung
- Prüfung von Bonddrähten und Bondingbereichen
- Hohlraumanalyse leitender und nichtleitender Die-Bonds
- Analyse diskreter Bauteile wie Kondensatoren und Spulen
Mikro- und Nanofokus
phoenix nanome|x
Extrem hochauflösendes Nanofokussystem für die Prüfung hochwertiger Baugruppen und Verbindungen in der Halbleiter- und SMT-Industrie.
phoenix microme|x
Hochauflösendes Mikrofokussystem für die Echtzeit-Röntgenprüfung von Lötstellen und Elektronikbauteilen
phoenix microme|x DXR-HD
Hochauflösendes Mikrofokus-Röntgenprüfsystem mit 180 kV für die Echtzeitprüfung von Lötstellen und Elektronikbauteilen sowie für die automatische Prüfung (µAXI)
ndt|analyser
Hochauflösendes Mikrofokussystem für die 2D-Echtzeit-Röntgenprüfung von Elektronik- und Mechanikbauteilen, Sensoren, Kabeln, Gussteilen usw.
pcba|inspector
Hochauflösendes 2D-Mikrofokus-Röntgenprüfsystem für die Lötstellenprüfung
2D-Röntgenprüf-
software phoenix x|act
Für schnelle und einfache CAD-basierte, hochauflösende automatische Röntgenprüfung (µAXI) für extrem hohe Fehlererkennungsrate mit starker Vergrößerung und hoher Wiederholbarkeit.
phoenix x|argos
Hochauflösendes 2D-Röntgensystem speziell für außergewöhnlich große Objekte bis 100 kg konzipiert.
phoenix x|aminer
Röntgenprüfsystem der Einstiegsklasse, entwickelt für die besonderen Anforderungen der hochauflösenden Prüfung von elektronischen Baugruppen, Bauteilen und PCBA
|
|
|
|
|
|
|
