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Galaxy XRD Twin Shot

Standard Laue System

SEIFERT Galaxy XRD Twin Shot ist die Weiterentwicklung des Laue-Standardsystems Galaxy XRD. Die Probe wird in einem motorbetriebenen X-, Y-, Z-Halter befestigt. Dieser wird automatisch an drei Stellen positioniert: a. optische Kamera für Messpunktauswahl und -dokumentation, b. Laser-Einstellung für den z-Messabstand, c. Laue-Röntgenmessung. Das leistungsstarke RayfleX-Softwarepaket bietet eine automatische Datenaufnahme, Indizierung und Auswertung der Einkristallorientierung bezogen auf die Geometrieachse der Probe. Bei Teilen mit säulenartigem Kornwachstum werden die relativen Orientierungen berechnet. In Position a. können Messpunkte bestimmt werden. Diese werden automatisch in Position b. eingestellt und in Position c. gemessen.

 

 

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Merkmale

  • Standard-W-Strahlquelle
  • Probeneinstellposition
  • Betrachtung und Dokumentation mit optischer Kamera
  • z-Einstellung des Lasers
  • Motorbetriebene X-, Y-, Z-Probenbefestigung
  • Echtzeit-Flächen-Detektor 200 x 200 mm2
  • Proben-Mapping
  • Standard-Röntgenschutzschrank
  • Leistungsfähiges RayfleX-Softwarepaket

Anwendungen

  • Bestimmung der Einkristallorientierung
  • Einkristallprobe
  • Einkristall-Turbinenschaufeln
  • Relative Kornausrichtung

Technische Daten

Galaxy XRD Twin Shot

Strahlenschutzschrank Standard-Strahlenschutzschrank nach der deutschen RöV
Röntgenausrüstung 2 – 60 kV, 2 - 80 mA, max. 3,5 kW, +/- 0,01% bei +/-10% Netzspannungsschwankung
Röntgenröhre 3000-Watt-Wolframglasröhre mit Punktfokus
Röntgenoptik Kollimatoren-Set für verschiedene Spot-Größen
Probenmanipulator Motorbetriebene X-, Y-, Z-Probenbefestigung plus x’-Achse
Detektor Echtzeit-Flächen-Detektor 200 x 200 mm2

Probenmanipulator

Max. Last 3 kg
Max. Probenhöhe 100 mm
Max. Probendurchmesser 100 mm

Z-Achse (vertikale Achse)

Min. Schrittgröße 0,001 mm
Reproduzierbarkeit ± 0,005 mm
Bereich 95 mm

X/Y-Achse

Min. Schrittgröße 0,001 mm
Reproduzierbarkeit ± 0,005 mm
Bereiche 70 mm

X-Achse

Min. Schrittgröße 0,1 mm
Bereich 400 mm

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