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Röntgenanalytik

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Überblick Röntgenanalytik
Kontakt: xrd.info@ge.com

Die Seifert-Röntgenanalytik von GE Inspection Technologies stellt den Industriestandard der Röntgendiffraktionstechnik (XRD) dar. Standardsysteme dienen zur Materialcharakterisierung in Forschung und Entwicklung sowie zur Qualitätssicherung in verschiedenen Industriebranchen. Eine Vielzahl von Geräten ist für Spezialanwendungen konzipiert. Der Seifert Analytical X-ray Residual Stress Analyzer spielt eine wichtige Rolle in der Automobil- und deren Zulieferindustrie. In der Halbleiterfertigung sind die Systeme zur Orientierung der Einkristalle (Ingots und Wafer) direkt in die Produktionslinie integriert. Für die Luft- und Raumfahrt wurden Systeme entwickelt, die in Echtzeit nach dem Laue-Rückstrahlverfahren arbeiten und der Bestimmung der Orientierung von einkristallinen Bauteilen dienen.

 

Automobil & Luft- und Raumfahrt - Seifert Charon XRD


  • link-xrd3003-heavyweight

    Seifert Charon XRD XL
    Schwerlast System für die Stressmessung an komplexen und schweren Teilen wie Kurbel- und Nockenwellen.

  • link-xrd-sample-station

    Seifert Charon PREP
    Konzipiert für die Festlegung der Messpunkte, auch bei komplexen Geometrien wie Kurbel- und Nockenwellen.

  • link-xrd-3003-middleweight

    Seifert Charon XRD M
    für Stressmessungen an industriellen Teilen wie Rohre, Ringe usw. mit einem Gewicht bis zu 3 kg und einem Durchmesser bis zu 300 mm.

  • XRD Stress Analyzer Ball Bearing

    Seifert Charon XRD BB
    Konzipiert für die Prüfung von Kugeln und Lagern.

Luft- und Raumfahrt & Stromversorgung - Seifert Galaxy XRD


Forschung & Entwicklung - Seifert Space XRD


  • XRD 3003 PTS

    Seifert Space XRD
    4-Kreis-Diffraktometersystem für die Durchführung von Phasen-, Textur- und Resteigenspan- nungsanalysen in einem einzigen System.

  • link-xrd-3003-tt

    Seifert Space XRD L
    Für die qualitative und quantitative Phasenanalyse und andere Prüfmethoden.

  • link-xrd-3003-double-double

    Seifert Space XRD XL
    Hochauflösendes Diffraktometer für die Charakterisierung der Struktur von Substraten und Dünnfilmen.

Photovoltaik - Seifert Sun XRD


  • link-xrd-fast-insitu

    Seifert Sun XRD
    Für Untersuchungen des temperaturabhängigen Phasenübergangs.

Halbleiter - Seifert Jupiter XRD


 

 

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