Produktübersicht Radiographie (Röntgen)
Die Radiographie (Röntgen) ist ein zerstörungsfreies Prüfverfahren (Non-Destructive Testing, NDT) zur Untersuchung des Volumens eines Prüflings. In der Radiographie wird mit Röntgen- oder Gammastrahlen ein Röntgenbild von einem Prüfling erzeugt, das Dickenänderungen, interne und externe Fehler und Montagedetails darstellt und somit eine optimale Qualität in Ihrem Betrieb gewährleistet.
GE Inspection Technologies bietet ein vollständiges Spektrum industrieller Röntgengeräte und -verfahren an. In Zusammenarbeit mit Ihnen finden wir die geeignetste Lösung, um für Ihre Anwendung eine optimale technische Leistung, Geschwindigkeit und Wirtschaftlichkeit zu realisieren.
Filme und Filmausrüstung
Filme
In verschiedenen Größen für alle Arten von Aufnahmen
Filmverpackungen
Breite Auswahl an Verpackungen für jede Anwendung, damit der richtige Film in der richtigen Verpackung erhältlich ist
Chemikalien
Structurix-Chemikalien, die strategisch auf Filme und Filmverar-
beitungsgeräte von GE abgestimmt sind, garantieren eine perfekte Filmentwicklung.
Ausrüstung
Breites Angebot an Filmentwick-
lungsgeräten, Mischern und Trocknern für die Filmentwicklung
Röntgenröhren und -generator
ISOVOLT Titan E
Der stationäre Röntgengenerator
mit hohem Bedienkomfort, Regelungsfunktionen und eingebauten Logikschaltungen ermöglicht eine höhere Produktivität und Zuverlässigkeit im Betrieb.
ERESCO MF4
Tragbare Röntgengeräte für zuverlässigen Betrieb unter schwierigsten Bedingungen.
ISOVOLT Mobile 160
für Röntgenprüfungen in schwer zugänglichen Bereichen
ISOVOLT 3003
Hochstabilisiertes Gerät mit mittelfrequenter Konvertertechnik, geringem Gewicht, kleinen Abmessungen und geringem Stromverbrauch.
Digitales Röntgen
DXR250V
Ein kompaktes digitales Radiographiesystem für den Einsatz in anspruchvollsten Umgebungen
DXR250P
Ein kompaktes digitales Radiographiesystem für den Einsatz in anspruchvollsten Umgebungen
DXR500L
Das Detektorarray DXR500L für Industriean-
wendungen bietet die höchste Bildqualität in rauer Produktionsum-
gebung.
Detektor DXR250
Mit großer aktiver Fläche und einfachem Filmwechsel
DXR500RT
Digitales Echtzeit-Detektorarray für höchste Bildqualität in rauer Produktionsumg-
ebung
CRx Flex CR Scanner
Industrieller Computer-Radiographie-Scanner vereint Flexibilität, Zuverlässigkeit, dynamischen Bereich und Bedienfreundlichkeit in einem Gerät.
CRx25P CR Scanner
Industrieller Computer-Radiographie-Scanner vereint Flexibilität, Zuverlässigkeit, dynamischen Bereich und Bedienfreundlichkeit in einem Gerät.
Phosphor-Bildplatten IPS & IPC2
Speziell für den industriellen Gebrauch entwickelt, entsprechend allen ASTM- und CEN-Normen
Digitale Kassetten
Die digitalen Kassetten von GE sind speziell für Anwendungen im Bereich der zerstörungsfreien Prüftechnik ausgelegt. Die Radiographie-
kassetten sind leicht und einfach anzuwenden.
Scannen von Filmen
Hochleistungsfähige Filmdigitalisierung in höchster Qualität bei hohem Durchsatz
Röntgen-Prüfsysteme
Reihe X-Cube
Vielseitiges Röntgenprüfsystem mit 160 kV für Stichproben-
prüfungen und zur Untersuchung von Kleinserien unterschiedlichster Prüfteile.
DP 150
Für die Röntgenprüfung von Kleinteilen
VISTAPLUS V
Digitales Bildverbesserungs- und -archivierungssystem
SABA
Automatisches Fehlererkennungs-
system für automatische und bedienerlose Prüfung von Leichtmetallguss-
teilen
Mikro- und Nanofokus
phoenix nanome|x
Extrem hochauflösendes Nanofokussystem für die Prüfung hochwertiger Baugruppen und Verbindungen in der Halbleiter- und SMT-Industrie.
phoenix microme|x
Hochauflösendes Mikrofokussystem für die Echtzeit-Röntgenprüfung von Lötstellen und Elektronikbauteilen
phoenix microme|x DXR-HD
Hochauflösendes Mikrofokus-Röntgenprüfsystem mit 180 kV für die Echtzeitprüfung von Lötstellen und Elektronikbauteilen sowie für die automatische Prüfung (µAXI)
ndt|analyser
Hochauflösendes Mikrofokussystem für die 2D-Echtzeit-Röntgenprüfung von Elektronik- und Mechanikbauteilen, Sensoren, Kabeln, Gussteilen usw.
pcba|inspector
Hochauflösendes 2D-Mikrofokus-Röntgenprüfsystem für die Lötstellenprüfung
2D-Röntgenprüf-
software phoenix x|act
Für schnelle und einfache CAD-basierte, hochauflösende automatische Röntgenprüfung (µAXI) für extrem hohe Fehlererkennungsrate mit starker Vergrößerung und hoher Wiederholbarkeit.
phoenix x|aminer
Röntgenprüfsystem der Einstiegsklasse, entwickelt für die besonderen Anforderungen der hochauflösenden Prüfung von elektronischen Baugruppen, Bauteilen und PCBA
CT (Computertomographie)
phoenix nanotom m
nanoCT®-System für wissenschaftliche und industrielle Computertomo-
graphie (Mikro-CT und Nano-CT) und 3D-Metrologie für breites Probenspektrum.
phoenix nanotom® s
Erstes nanofocus-Computertomo-graphiesystem (Nano-CT-System) mit 180 kV / 15 W, das vollständig auf Applikationen in der Material-wissenschaft, Mikromechanik, Elektronik, Geologie und Biologie zugeschnitten ist.
v|tome|x s
Hochauflösendes System für die 2D-Röntgenprüfung und 3D-Computertomo-
graphie (Mikro- und Nano-CT) sowie für die 3D-Metrologie
v|tome|x m
Der phoenix v|tome|x m ist ein vielseitiges mikrofokus Röntgen CT System für 3D Metrologie und Analyse mit bis zu 300kV/500W.
v|tome|x L 240
Hochauflösendes Mikrofokus-Computertomo-
graphiesystem (Mikro-CT) für 3D-Computertomo-
graphie
v|tome|x L 300
Hochauflösendes Mikrofokus-Computertomo-
graphiesystem (Mikro-CT) für 2D- und 3D-Computertomo-
graphie und zerstörungsfreie 2D-Röntgenprüfung
v|tome|x L 450
Hochauflösendes Mikrofokus-Computertomo-
graphiesystem (Mikro-CT) für 2D- und 3D-Computertomo-
graphie und zerstörungsfreie 2D-Röntgenprüfung
Software datos|x CT
Modernste CT-Software für automatisierte Datenerfassung und Volumenverarbeitung
Röntgenanalytik (XRD)
Galaxy XRD Heavyweight
Laue-Standardsystem für Online-Messungen großer (< 50 cm) und schwerer Teile (< 30 kg).
XRD 3003 PTS
4-Kreis-Diffraktometersystem für die Durchführung von Phasen-, Textur- und Resteigenspan-
nungsanalysen in einem einzigen System
XRD 3003 T/T
Für die qualitative und quantitative Phasenanalyse und andere Prüfmethoden.
XRD 3003 HR double double
Hochauflösendes Diffraktometer für die Charakterisierung der Struktur von Substraten und Dünnfilmen
|
|
